使用预约

在大气及液体环境下观测样品表面的形貌；同时可通过不同模块对样品表面物理化学特性进行研究，如力谱，导电性，表面电势、磁场力等，获取材料表面的粗糙度以及微区的力、电性质分布。仪器配备加热台，可进行室温至250℃的原位测试。配备光电模块，可在紫外和可见光激发下测试样品的表面电势、导电性分布。

待测样品一般制备在样品载体上（样品载体可为云母片、玻璃片、石墨、抛光硅片等)，建议提前一天制样以保证样品干净、新鲜。

云母片的使用：第一次使用时，先将云母片固定在2.5 cm×2.5 cm的玻璃片上。每次使用时需用双面胶或透明胶带将最上面一层的云母片撕掉，方能在新鲜的云母片上制样。

硅片的使用：硅片在使用前需用酸、碱、超纯水依次反复超声清洗以保证洁净。

（1）粉末样品

若是纳米颗粒样品，先用一定的分散剂超声分散后，取一滴在云母等很平整的基底上，干燥后测试。首先将粉末样品加入在溶剂中（一般为超纯水或乙醇），浓度控制在40 mg/mL以下，超声分散，分散好的溶液滴到云母片或硅片上，用N2吹扫。将制好的样品放在表面皿中，半掩盖子，通风橱自然风干，防止进灰。

如果样品表面有无机盐，先用水等清除盐分后来测试，因为盐分结晶影响形貌的扫描。

由于AFM测试浓度不好掌握，第一次测试时可按梯度多制备几个样品。

（2）薄膜样品

可按照所需实验工艺制备薄膜样品。薄膜厚度测试，预先把薄膜和基底作出一个边界清楚的台阶。

（3）本仪器样品在大气环境中检测导体、半导体、绝缘体以及生物样品的形貌表征，硅片及玻璃片尺寸不得小于1 cm×1 cm。

（1）样品尺寸直径小于15 mm，高度小于7 mm，粗糙度小于5 μm；

（2）拷贝数据，自备光盘，严禁使用U盘。

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